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博曼(BOWMAN)新一代进口专业镀层厚度X射线荧光膜厚测试仪

发布时间:2014年02月08日

详细说明

美国博曼(Bowman) 新一代进口专业镀层厚度检测仪,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探测器),测量精度和测量结果业界领先。
    采用了FlexFP技术,无论是生产过程中的质量控制,还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检,我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。
    Ux-720微移动平台和高清CCD搭配,旋钮调节设计在壳体外部,观察移动位置简单方便。
    X射线荧光技术测试镀层厚度的应用,提高了大批量生产电镀产品的检验条件,无损、快速和更准确的特点,对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。
    美国博曼(Bowman)镀层测厚仪采用了*新专利技术,不在受标准样品的限制,在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度,测试结果经得起科学验证。
    样品移动设计为样品腔外部调节,多点测试时移动样品方便快捷,有助于提升效率。
    设计更科学,软硬件配合,机电联动,辐射安全高于国标GBZ115-2002要求。

1.用于铁合金、镍基合金、钴基合金、钛合金、铜基合金、高温合金、铝合金及各种混杂合金系列成分元素识别和含量测试。
2.用于石油化工、精细化工、农业化工、锅炉、容器、管道等高温高压行业、制药、电力电站等金属识别。
3.铁合金系列:不锈钢、铬/钼合金钢、低合金钢、多具钢
4.铜基系列:青铜、黄铜、铜镍合金
5.铝合金:铸造铝合金、型材铝
6.镍基合金系列:镍合金、镍/钴超合金
7.钛基合金系列:钼钨合金、钴基合金系列、混杂合金系列
产品指标:
测试元素范围:Na-U中的元素;
探测器类型:Si-PIN电制冷   
探测器分辨率:145eV
光管靶材:Mo靶;
滤光片:8种符合滤光片自动切换;
微移动范围:XY全自动
开盖方式:随意自动停
测试样品种类:液体、固体和粉末
测量范围:1ppm—99.99%
测量用时:10-200秒
测定范围:钛(Ti) – 铀(U)


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