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芯片推拉力剪切力测试仪健合金球剪切LB-8600

发布时间:2022年07月11日

详细说明

一、用途
设备的主要用途为微电子引线键合后引线焊接强度测试、焊点与基板表面粘接力测试、晶片与框架表面粘接力测试。
二、 设计依据:(设备标准配置或根据客户提出的要求)
1、引线与晶片电极及框架粘接度拉力测试。
2、焊点与晶片电极粘接力推力测试;焊点与框架表面粘接力推力测试。
3、晶片与支架表面粘接力推力测试。
4、配备电脑可实时显示拉力曲线。
5、采用旋转式三工位独立传感采集系统。
6、设备平面可满足各种治具的灵活切换。
三、技术规格
1、拉力测试精度:传感器量程 0-100G,测试精度±0.025%;(可根据客户产品,配置不同量程传感器)
2、金球推力测试精度:金球推力传感器量程0-500G,测试精度±0.25%;(可根据客户产品,配置不同量程传感器)
3、晶片推力测试精度:晶片推力传感器量程 0-20KG,测试精度±0.25%;(可根据客户产品,配置不同量程传感器)
4、软件可开放选择:晶片推力测试、金球推力测试、拉力测试;
5、X 工作台: 有效行程 85mm;分辩率 ±0.002mm
6、Y 工作台: 有效行程 85mm;分辩率±0.002mm
7、Z 工作台: 有效行程 75mm;分辩率± 0.001mm
8、平台夹具:平台可共用各种夹具,夹具可 360 度旋转
9、四轴运动平台,采用进口传动部件,确保机台高速、长久稳定运行
10、双摇杆控制机器四向运动,操作简单快捷
11、机器自带电脑,windows 操作系统,软件操作简单,显示屏可一次显示 10 组测试数据及力值分布曲
线;并可实时导出、保存数据;
12、外观尺寸:长 570mm*宽 400mm*高 670mm。
13、电源供应:110/220V @4.0A 50/60HZ
14、设备重量:约95KG
15、功率:300W(max

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