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zonglen HAST偏压老化测试系统

发布时间:2024年05月15日

详细说明

HAST偏压老化测试系统

评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压,经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生,并记录电阻值变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,我们将其统称为绝缘劣化试验,可进行BHAST试验。



特点

·高机能:采用驱动计测, 测试时焊接工序大幅减少

·软件设计简单明了,直观易操作

·远程监控功能,可监控试验过程。

·便利性高:构造装着脱落式、 易进行保养交换。可同时试验停 止等联动装置功能,系统构成灵活。

·测试自检功能:点检、校正方便。

·设计精巧,不受场所限制,易移动。

·可靠性高:配有CF卡,以防设备故障数据丢失。以UPS作为系统的支撑,确保试验的安全继续进行。



HAST偏压老化测试系统

应用:PCB、焊料、助焊剂、涂层材料等,GBA、DSP等,IC封装、电容器、连接器 等电子器件及材料绝缘材料吸湿特性测试评估。



HAST偏压老化测试系统

技术规格

类型 500V *1 1000V

通道数 32通道/64通(可选)

工作时间 1~9999小时

偏置电压 -100~+500VDC -100~+1000VDC

记性反转 具备

共负极测试(可选) 具备

CAF测试(可选) 具备

测试电压 1.0-99.9VDC (0.01V 步进) 100-500VDC (0.1V 步进) 1.0-99.9VDC (0.01V 步进) 100-1000VDC (0.1V 步进

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