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可替代邦纳EZ-ARRAY测量光幕的高精度纠偏传感器

发布时间:2014年07月15日

详细说明

IMS的EZ-ARRAY测量光幕是高精度系列,能应用于复杂的测量检测环境下的测量光幕,并可应用于外形轮廓尺寸测量、物流分拣及纠偏。无需特别控制器,减少了用户的成本。
最小检测物体5mm或是2.5mm边缘检测或纠偏分辨率
检测高度为300-1200mm, 检测范围可达200-2000mm
直接扫描工作方式时扫描时间为2.8-26.5ms。
输出:开关量或串口输出

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