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全自动比表面仪及孔隙度分析仪TriStar II 系列

发布时间:2014年05月26日

详细说明

技术特点

· 同时和独立分析三个样品 - 三个BET表面积分析时间少于20分钟

· TriStar II比表面仪及孔径分析仪,孔径测定仪可用于微孔分析

· 标配一个专用的饱和压力接口,可选多种规格杜瓦瓶以及样品管

· TriStar II比表面仪及孔径分析仪,孔径测定仪可升级成高真空系统,用于低比表面积以及微孔的测试

· 可以测定、计算或手动输入自由空间

· TriStar II比表面仪及孔径分析仪,孔径测定仪可以使用任何气体,死体积测试可以不使用氦气

· 可选满足FDA的要求的Confirm 21 CFR Part 11的软件。 IQ和OQ认证服务,确保该系统的准确性、可靠性和一致性。这些服务保障了分析记录的完整性

· TriStar II比表面仪及孔径分析仪,孔径测定仪配置了液氮液面保持装置---液氮等温夹,以确保整个分析过程中等温夹套以下的温度恒定

· 仪器可同时进行三个样品的分析,满足测试量大的用户,不是多个工作站的"排队分析",每个分析站都配有独立的传感器,保证三个分析站分析的同时进行

· 配备了大容量杜瓦瓶,结合专利的液氮等温夹,保证至少60小时无人介入操作。*大无上限的连续分析
详见:麦克默瑞提克比表面仪http://www.micromeritics.com.cn/products_view.aspx?id=5

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