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丢失的单片机资料或学习国外单片机企业先进的设计思路提供技术支持，在MCU/CPLD/SPLD/PLD芯片解密技术的领域积累了丰富的开发经验。

C8051F346芯片主要特性：
　内部振荡器校准到12MHz±1.5％，工厂和内部振荡器的周期可能是用户编程?0.25％的增量。另外一个低频振荡器也可这有利于低功率运行。一个时钟恢复机制，使内部振荡器要与使用的4倍时钟作为
全速模式USB时钟源乘法器;内部振荡器也可作为在低速模式USB时钟源。一个外部CMOS时钟也可以使用4倍时钟乘数。系统时钟可以配置为使用内部振荡器，外部时钟，低频振荡器或时钟乘法器输出除以2
。如果需要，系统时钟源可切换上振荡器源之间的禁飞区。外部时钟和内部低频振荡器可非常有用，低功耗应用，使单片机运行缓慢（省电）的时钟源，而周期性地切换到高频率的内部振荡器需要。
　　
电子探针仪是X射线光谱学与电子光学技术相结合而产生的。以聚焦的高速电子来激发出试样表面组成元素的特征X射线，对微区成分进行定性或定量分析的一种材料物理试验，又称电子探针X射线显微
分析。电子探针分析的原理是：以动能为10～30千电子伏的细聚焦电子束轰击试样表面，击出表面组成元素的原子内层电子，使原子电离，此时外层电子迅速填补*位而释放能量，从而产生特征X射线。
　用波长色散谱仪（或能量色散谱仪）和检测计数系统，测量特征X射线的波长（或能量）和强度，即可鉴别元素的种类和浓度。
　在不损耗试样的情况下，电子探针通常能分析直径和深度不小于1微米范围内、原子序数4以上的所有元素；但是对原子序数小于12的元素，其灵敏度较差。常规分析的典型检测相对灵敏度为万分之一
，在有些情况下可达十万分之一。检测的*对灵敏度因元素而异，一般为10-14～10-16克。用这种方法可以方便地进行点、线、面上的元素分析，并获得元素分布的图象。对原子序数高于10、浓度高于
10％的元素，定量分析的相对精度优于±2％。

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