公司名称：上海益朗仪器有限公司

Compact 5/PIN
X-Ray Fluorescence Analyser with Semiconductor Detector

Compact 5/5PIN ：轻巧的设计，半开放式测试箱，可容纳大件的PCB产品，功能强大，可配合激光自动对焦，全方位自动样品台等功能使用。适合中小工件及PCB等产品行业。Compact 5 PIN更配备了半导体电子冷却检测器，令分辨率数倍提高，可测量非常薄的镀层，满足于半导体电子工业的应用。

安全性能：

通过德国PTB安全验证，符合德国*高安全法规标准。

可测元素范围：钛(Ti) – 铀(U)

可测量厚度范围：

22-25，0.1-0.8μm

26-40，0.05-35μm

43-52，0.1-100μm

72-82，0.05-5μm

准直器：0.1mm  0.3mm  0.1mm×0.3mm 。

可选四个组合：0.1mm , 0.2mm , 0.3mm , 0.4mm

50um , 75um×200um , 150um×300um , 300um


自动测量功能：

编程测量，自定测量

修正测量功能：

底材修正，已知样品修正

综合性能：

镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析

镀层分析：

可分析三层厚度,独有的FP分析软件,真正做到无厚度标准片亦能进行准确测量(需要配合纯材料),为您节省购买标准片的成本。完全超越其他品牌的FP软件。

镀液分析：

可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液。

定性定量分析：

光谱表示，光谱比较，可定性分析20多种金属元素；并可合金成份分析，可定量分析成分含量。

光谱对比功能：

可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度。

统计功能：

x管理图，x-R管理图，直方柱图，能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质。