公司名称：上海亚津电子科技有限公司

梅特勒XSE分析天平XSE205DU千分位天平

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梅特勒XSE分析天平良好的称量规范?


良好的称量规范?
新型 XSE 和 XPE 分析天平依照 GWP? 开发而成。
梅特勒-托利多开发出 GWP?（良好的称量规范?），作为安全选择、校准和操作称重设备的标准化科学方法。 GWP? 提供的可再现性称重结果书面凭证符合当前所有实验室和制造业的质量标准。
关注稳定的过程、一致的产品质量、精益制造或遵守法规的用户可使用 GWP? 作为选择和校准其称重设备的基准。





梅特勒XSE分析天平过程得到控制


梅特勒-托利多的 LabX? 可提升实验室平台的管理性能。 LabX 在提供关于天平触摸屏的灵活的 SOP 用户指南方面无可比拟。
自动化数据处理、计算和报告生成等功能让您不用再手写输入。
抄写错误得以消除，确保了完全的可追溯能力。 LabX 轻松地满足*高的过程安全要求，并帮助您建立无纸化实验室。