公司名称:高拓检测仪器有限公司

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供应X荧光光谱仪--高拓检测仪器

发布时间:05月10日

详细说明

原理:能量色散X射线荧光分析法 分析元素:Na ~U任意元素, 铅(Pb)、汞(Hg)、六价铬(Cr6+)、多溴联苯(PBB)和多溴联苯醚(PBDE)中的溴,直接分析出六价铬(Cr6+)含量 
技术指标、:检出下限(Cd/Pd):Cd/Cr/Hg/Br≦2 ppm, Pb≦5 ppm 
样品形状:任意大小,任意不规则形状 
样品类型:塑胶/金属/薄膜/粉末/液体 
X射线管:靶材/Mo 管电压/5~50 kV 管电流/*大1~1000 μA 
照射直径:2、5、8mm 
探测器:Si(PIN)半导体高灵敏度探测器 
滤光片:八种新型滤光片自动选择 
样品定位:微动载物平台(选配) 
样品观察:30倍彩色CCD摄像机 
微区分析:X光聚焦微区分析系统(选配)软件 
定量分析:理论Alpha系数法(NBS-GSC法) 
数据处理:IMB PC/AT/内存/256 MB 以上/硬盘/40 GB 以上系统:Windows XP正版 
功率:1.1kW 
重量:40Kg 
外形尺寸:550(W)×450(D)×450(H)mm 
配置:标准配置:Si(PIN)半导体高灵敏度探测器(<155eV) 
X光光管(寿命>15000小时) 
高压电源(RSD<0.25%) 
大样品仓 
高精密摄像机(130万像素) 
Alpha系数法(NBS-GSC法)定量软件 计算机(方正P4品牌机,17寸液晶显示器) 打印机(爱普生彩色喷墨打印机) 测试用样品杯2个,测试用塑料薄膜数张

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