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供应半导体分立器件测试系统

发布时间:09月30日

详细说明

西安厂家直供半导体分立器件测试系统
EN-2005B功率器件综合测试系统
系统概述
西安易恩电气 EN-2005B功率器件综合测试系统,设备扩展性强,通过选件可以提高电压、电流和测试品质范围。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座,自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降,保证测试结果准确可靠。
面板显示装置可及时显示系统的各种工作状态和测试结果。前面板的小键盘方便了系统操作。通过小键盘,系统可以脱离主控计算机独立完成多种工作。
系统提供与机械手、探针台、电脑的连接口,可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。
设备用途
测试分析、器件选型 、筛选检验 、生产线自动批量测试等
技术指标
主极电压: 10mV-2000V
主极电流: 100nA-50A
扩展电流: 100A、500A、1000A、1300A
电压分辨率: 1mV
电流分辨率: 1nA
测试精度: 0.2%+2LSB
测试速度: 0.5mS/参数
系统功耗: <150w
质 量: 35KG
尺 寸: 450x570x280mm
通信接口: RS232 USB
工作温度: 25-40°C
测试范围
测试范围 / 测试参数
序号 测试器件 测试参数
01 二极管
DIODE IR;BVR ;VF
02 晶体管
(NPN型/PNP型) ICBO;ICEO;ICER; ICES; ICEV;IEBO;BVCEO ;BVCBO;
BVEBO;HFE;VCESAT;VBESAT;VBE(VBEON);RE;VF
03 J型场效应管
J-FET IGSS;IDOFF;IDGO;BVDGO;BVGSS;VDSON,VGSON;
IDSS;GFS;VGSOFF
04 MOS场效应管&#160;
MOS-FET IDSS;IDSV;IGSSF;&#160; IGSSR;VGSF;VGSR;BVDSS;
VGSTH;VDSON、VF(VSD) IDON;VGSON;RDSON;GFS
05 双向可控硅
TRIAC VD+;VD-;VT+ ; VT-;IGT;VGT ;IL+;IL-;IH+;IH-
06 可控硅
SCR IDRM;IRRM;IGKO;VDRM;VRRM;BVGKO;VTM;
IGT;VGT;IL;IH
07 绝缘栅双极大功率晶体管
IGBT ICES;IGESF;IGESR;BVCES;VGETH;VCESAT;ICON;
VGEON;VF;GFS
08 硅触发可控硅
STS IH+; IH-;VSW+ ; VSW-;VPK+ ;
VPK-;VGSW+;VGSW-
09 达林顿阵列
DARLINTON ICBO; ICEO;ICER;ICES;ICEX;IEBO;BVCEO;
BVCER;BVCEE;BVCES ;BVCBO;BVEBO;hFE ;
VCESAT; VBESAT;VBE

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