公司名称：苏州华碧微科检测技术有限公司

AECQ102是基于失效机理的离散光电半导体在汽车应用中的压力测试资格。
序号 应力方式 缩写 注释 样品尺寸/批号 数目 接受标准 试验方法（现行修订） 补充技术条件
1 前后电测和光度测试 Test N，G 根据适当的零件规格的要求测试的所有合格部件。 0 用户规格或供应商的标准规格 试验是按照适用的应力基准中的规定进行的。另见第2.3.7节。
2 预处理 PC G, S 至少在测试#6、#7和#8之前的SMD资格部件 0 JEDEC JESD22-A113 至少在测试#6，#7和#8之前在表面安装部件（SMDS）上执行。在适用的情况下，预处理水平和峰值回流温度必须报告时，预处理和/或MSL是 完成了。任何更换零件都必须报告。PC前后测试
3 外部视觉 EV N, G
除DPA和PD外，所有提交测试的合格部件 0 JEDEC
JESD22-B101 检查零件的施工、标记和工艺。
4 参数验证 PV N 25 3注：A 0 个体AEC用户规范 在零件温度范围内根据用户规格测试所有参数，以确保规格符合要求。
5a 高温操作寿命HTOL HTOL1 D, G, X,
Y 26 3注B 0 JEDEC
JESD22-A108 只适用于LED和激光组件。持续时间1000小时在*大指定的TSolder。根据减额曲线选择相应的驱动电流，以达到零件规范中定义的*大TJ。T 如果没有减缩，EST5a相当于5b。在特殊应用程序中使用；可能需要更长的测试持续时间来确保应用程序寿命的可靠性。详情见附录7a“R” 可忽略性验证LED“。测试前后HTOL1。
5b 高温操作寿命HTOL HTOL2 D, G, X,
Y 26 3注B 0 JEDEC JESD22-A108 仅适用于LED和激光元件在*大指定驱动电流下的持续时间1000小时。根据减额曲线选择相应的TSolder，以实现部件规范中定义的*大TJ。Te 如果没有减缩，st5b相当于5a。在特殊应用程序中使用；可能需要更长的测试持续时间来确保应用程序寿命的可靠性。详情见附录7a“Rel” LED的可用性验证“。测试前后HTOL2。
5c 高温反向偏置 HTRB D, G, Z
26 3注B 0 JEDEC
JESD22-A108 只适用于光电二极管和光电晶体管。持续时间1000h在*大指定的TSolder下工作连续反向偏置光电二极管：VR=部分指定的*大额定反向电压 阳离子：光电晶体管：Vce=零件规范中定义的*大额定集电极发射极电压。不会有光线照射。在HT RB前后进行测试。