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MJLD型吸收率和法向发射率测量装置

发布时间:01月12日

详细说明

MJLD型吸收率和法向发射率测量装置
产品介绍 
MJLD型吸收率和法向发射率测量装置,主要用于测量材料的太阳吸收比和法向发射率。它是将吸收率测量装置和法向发射率测量装置合为一体,配有计算机和专用工作软件,实现自动测量的先进测量设备。本装置是由国防航天军工科技企业和航天著名专家研究员联合研制。是航天系统测量专家的智慧结晶。本设备是国内首创,填补国内测量材料太阳吸收比和法向发射率仪器的空白,同时在测量方法上有进一步的创新。 
主要用途
测量固体材料的太阳吸收和法向发射特性。
技术指标
吸收率 
◆测量范围:0.0 2~0.9 9; 
◆工作温度范围:-30~80℃; 
◆测量不确定度:当αs>0.8 为±2.0%;当εn<0.2 为±4%;其余为2.5%; 
◆积分球直径:Φ150; 
◆光源高色温:220V300W; 
◆探测器:真空平面热电堆; 
◆工作波长:0.3 5~2.5μm;
 
法向发射率 
◆测量范围:0.0 5~0.9 9; 
◆工作温度范围:-30~80℃; 
◆测量不确定度:当εn>0.7 为±1.5%;当εn<0.2 为±5%;其余为2%; 
◆探测器:平面热电堆; 
◆峰值波长:8.4~11μm;

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