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X光检测机

发布时间:08月14日

详细说明

X-RAY 检测机
X光检测机
VERTEX X射线检测系统

VJ Electronix Vertex A系列功能强大,配置灵活,检测区域覆盖面积广(20”×24”),可实现手动和自动的X光检测。板上样品导航功能提供了更为简单精确的定位性能,使Vertex A系列高度适用于生产线及其它各种应用。
可供选择的X光源(75kV,90kV,130kV,150kV)及探测器(2”/4”/6”图像增强器或平板数字探测器)为您提供了多样性的X射线检测性能。

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系统基础参数
型号 A-75 A-90 A-130 A-150
光源 75kV 90 kV 130 kV 150 kV
焦点大小 45μ 5μ 6μ 5μ
空间分辨率 ﹥10 lp/mm ﹥40 lp/mm ﹥40 lp/mm ﹥40 lp/mm
总放大倍率-标配摄像头 ﹥24X ﹥130X ﹥70X ﹥60X
总放大倍率-高分辨率摄像头 ﹥29X ﹥240X ﹥130X ﹥110X
*大视野(可视*大区域) ﹥2” ﹥1.6” ﹥2” ﹥2”
编程能力 选配 标配
设备尺寸 70” ×50” ×62”(D×W×H) (2000mm×1422mm×1575mm)
离轴防护:可用1或2个轴夹具; 检测范围:20” ×24”; *大基板尺寸:20¼” ×24¼”

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